我校拟购置一套中温黑体炉系统，现进行公开招标。请有意参加投标的单位到我校采购与招标管理办公室报名。
一、项目概况：
1、招标内容: 中温黑体炉系统
2、项目实施地点：武汉科技大学
二、报名须知：
1、报名单位必须具有独立法人资格且注册资金不低于50万。
2、报名单位必须提供该单位的营业执照（年检须合格）、税务登记证、组织机构代码、法人授权委托书、身份证等的原件与复印件（复印件须加盖单位公章）。我办将对以上证件的原件进行验证与登记，同时将法人授权委托书的原件及其它证件的复印件留存。
4、报名单位必须提供能证明本单位近二年来类似项目业绩的合同或相关材料原件及复印件。
5、报名时间：2015年12月9日（周三）
6、报名地址：武汉科技大学采购与招标管理办公室（武汉市青山区和平大道947号武汉科技大学主楼1409）
7: 联系人：刘老师 熊老师
8、联系电话（传真）：027－68862385
9、邮箱：wkdzbb@163.com
技术参数：
1. 功能要求
采用国际标准的能量法，获得不同温度下固体材料的红外光谱发射率。
2.主要参数
针对待测材料的高温发射率测量，避免高温氧化对黑体腔体材料、材料试样及试样加热体的破坏，在保证发射率测量的温度要求的前提下，提高测量系统的工作稳定性、延长使用寿命，在测量环境、温度范围、控温精度及测量结果重复性方面，中温黑体炉系统应满足如下技术指标：
1、测量环境：1×10-1Pa；
2、温度范围：500-1500℃
3、温度稳定性：±1℃
4、加热时间：1h/1500℃
5、控温精度：±1℃
6、光谱范围：2-10μm
7、光谱分辨率：0.01μm
8、发射率测量范围：0.05-0.99
9、发射率结果重复性：3%
3.系统组成
系统由真空装置、黑体辐射源、试样加热装置、辐射量采集装置、控温装置、运动控制台、工控机及辅助的光路和配套的电路组成，主要装置如图1所示。
图1测量系统组成框图
框图中装置在发射率测量过程中发挥的主要功能如表1所示。
表1 测量系统中各装置的主要功能
| 名称
|
功能
|
| 真空装置
|
提供真空测量环境，达到技术指标对真空度要求，并预留加装分子泵的接口。
|
| 黑体辐射源
|
为发射率测量提供必需的黑体辐射亮度，辐射源黑度达到0.99±0.01。
|
| 试样加热装置
|
完成对试样的加热，满足测量指标中对温度范围的要求。
|
| 辐射量采集装置
|
实现对同温度下黑体和试样辐射亮度的测量，满足技术指标对光谱范围和测量精度的要求。
|
| 控温装置
|
完成对黑体及试样温度的加热和温度控制，达到技术指标对控温精度的要求。
|
| 运动控制平台
|
运动平台实现黑体及试样加热装置在三维空间内的位置移动，保证黑体和试样辐射采集的一致性。
|
| 数据采集
|
对采集的电信号进行处理及A/D转化。
|
| 工控机
|
工控机中的测量&控制软件实现对各个装置的控制，完成发射率的测量、显示等功能，工控机的操作系统为正版主流微软视窗系统。
|
4.质保要求
1、免费质保期期限：2年；
2、专业工程师提供免费的安装调试，并按照招标文件的技术指标进行验收；
3、提供快速响应的维修服务体系；
4、免费质保期满之后承诺维修只收零配件费用；
5、长期提供技术上的支持；
6、软件版本需免费进行升级；
7、免费提供该仪器设备现场培训。
注：具体参数以招标文件为准
